| Liewald, Clemens (2018): Microscopy and nanoscopy of organic semiconductors for structural and electronic analysis. Dissertation, LMU München: Fakultät für Physik |
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PDF
Liewald_Clemens.pdf 23MB |
DOI: 10.5282/edoc.22907
| Dokumententyp: | Dissertationen (Dissertation, LMU München) |
|---|---|
| Themengebiete: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Fakultäten: | Fakultät für Physik |
| Sprache der Hochschulschrift: | Englisch |
| Datum der mündlichen Prüfung: | 10. Juli 2018 |
| 1. Berichterstatter:in: | Nickel, Bert |
| MD5 Prüfsumme der PDF-Datei: | 8b5b0a8b179c9c9c4a7957da47de3cf9 |
| Signatur der gedruckten Ausgabe: | 0001/UMC 25820 |
| ID Code: | 22907 |
| Eingestellt am: | 04. Oct. 2018 12:14 |
| Letzte Änderungen: | 23. Oct. 2020 16:42 |
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