| Buersgens, Federico (2008): Terahertz-Nahfeldmikroskopie an Ladungsträgern in GaAs. Dissertation, LMU München: Fakultät für Physik |
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PDF
Buersgens_Federico_F.pdf 4MB |
DOI: 10.5282/edoc.9527
| Dokumententyp: | Dissertationen (Dissertation, LMU München) |
|---|---|
| Themengebiete: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik |
| Fakultäten: | Fakultät für Physik |
| Sprache der Hochschulschrift: | Deutsch |
| Datum der mündlichen Prüfung: | 15. Dezember 2008 |
| 1. Berichterstatter:in: | Kersting, Roland |
| MD5 Prüfsumme der PDF-Datei: | a1d757e0c44cc5d9d7be70da677d123f |
| Signatur der gedruckten Ausgabe: | 0001/UMC 17519 |
| ID Code: | 9527 |
| Eingestellt am: | 20. Jan. 2009 13:53 |
| Letzte Änderungen: | 23. Oct. 2020 13:00 |
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