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Entwicklung eines Raster-Sonden-Mikroskops (SPM) für die Analyse oberflächenadsorbierter und selbstassemblierter Nanostrukturen
Entwicklung eines Raster-Sonden-Mikroskops (SPM) für die Analyse oberflächenadsorbierter und selbstassemblierter Nanostrukturen
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Kloft, Stephan
2020
German
Universitätsbibliothek der Ludwig-Maximilians-Universität München
Kloft, Stephan (2020): Entwicklung eines Raster-Sonden-Mikroskops (SPM) für die Analyse oberflächenadsorbierter und selbstassemblierter Nanostrukturen. Dissertation, LMU München: Faculty of Geosciences
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