| Kloft, Stephan (2020): Entwicklung eines Raster-Sonden-Mikroskops (SPM) für die Analyse oberflächenadsorbierter und selbstassemblierter Nanostrukturen. Dissertation, LMU München: Fakultät für Geowissenschaften |
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PDF
Kloft_Stephan.pdf 11MB |
DOI: 10.5282/edoc.27561
| Dokumententyp: | Dissertationen (Dissertation, LMU München) |
|---|---|
| Themengebiete: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 550 Geowissenschaften |
| Fakultäten: | Fakultät für Geowissenschaften |
| Sprache der Hochschulschrift: | Deutsch |
| Datum der mündlichen Prüfung: | 15. Dezember 2020 |
| 1. Berichterstatter:in: | Lackinger, Markus |
| MD5 Prüfsumme der PDF-Datei: | 37147aa78ded8e3c28548c3089fbc699 |
| Signatur der gedruckten Ausgabe: | 0001/UMC 27802 |
| ID Code: | 27561 |
| Eingestellt am: | 19. Mar. 2021 10:22 |
| Letzte Änderungen: | 23. Mar. 2021 08:46 |
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